PERKIN ELMER ICP-MS NexION 2000

Obezbeđuje poboljšanu matriks toleranciju; služi za obradu najtežih matriksa; mogućnost prebacivanja iz hladnog u topao mod plazme bez prekidanja rada; inovirani kalem bez hlađenja i bez održavanja, LumiCoil™ tehnologija;

Category:

NOVI ICP-MS NexION 2000

Free-running RF Plasma Generator
Obezbeđuje poboljšanu matriks toleranciju
– Služi za obradu najtežih matriksa;
– Mogućnost prebacivanja iz hladnog u topao mod plazme bez prekidanja rada;
– Inovirani kalem bez hlađenja i bez održavanja, LumiCoil™ tehnologija;

Univerzalna ćelijska tehnologija – Universal Cell Technology
Omogućava Vam da izaberete idealnu metodu za eliminisanje interferenci za Vaše uzorke
– Obezbeđuje tri moda rada (Standardni, Kolizioni, Reakcioni 1 (O2)), Reakcioni 2 (NH3) u istom Run-u;
– 3 kanala za gasove;
– Jednostavna i brza promena moda rada u cilju poboljšavanja performansi instrumenta;

Kvadrupol jon deflektor
Maksimalna produktivnost i minimalni troškovi
– Omogućava prolazak samo jona specifične atomske mase do univerzalne ćelije, ostavlja ćeliju čistu čime obezbeđuje znatno niže detekcione limite

Simultani dvostruko modni detektor
Najbrža akvizicija podataka na tržištu
– 10 puta brža akvizicija od konkurencije (100.000 podataka/sekundi)
– Jedini ICP-MS sa detekcionim limitom u nivou ppq;
– Superiorno vreme analize;
– Dinamički opseg 10 12

Trostruki interfejs konova
Smanjuje troškove eksploatacije i daje bolje rezultate
– Znatno fokusiraniji snop jona;
– Redukuje sakupljanje komponenti na konovima što smanjuje troškove održavanja;

Posmatranje plazme u boji
Kontrola komponenti bez otvaranja instrumenta;
– Stalna vizuelna kontrola konusa, baklje i kalema bez otvaranja instrumenta;
– Jednostavna optimizacija pozicije baklje u odnosu na tip uzoraka;

AMS (All Matrix Solution) sistem za unošenje uzoraka
Analiza uzoraka visokog sadržaja nerastvornih čestica bez prethodnog razblaživanja
– Automatsko razblaživanje pomoću gasa do 100 puta;
– Omogućava analizu uzoraka sa sadržajem NaCl do 35%;
– Omogućava analizu elemenata u visokim i niskim koncentracijama bez gubitka detekcionih limita;

Kontakt

X
Scroll to Top